膜厚仪
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  • 液晶膜盒厚测试仪
  • 产品型号:
  • 发布时间:2014-03-06
  • 浏览次数:147
    • 产品描述
    • 性能参数
    • 常规规格
          液晶膜盒厚测试仪可以测量单层、双层透明薄膜厚度和液晶盒间隙等参数。该仪器采用非接触测量方法,依据光学干涉原理,在计算机控制下进行数据采集和处理,具有测试速度快,精度高和测试过程自动化等特点。适用于在线检测工作的需要。数据可靠,符合研究成果鉴定要求,达到国际先进水平,液晶显示器的制造需经历十几道工序,期间涉及几十个关键参数,这些亘接影响其成品率。


    项目

    膜厚测试

    测试范围

    10nm-3μm

    样品尺寸

    360mm×410mm

    测试点尺寸

    φ2mm

    光谱分辨率

    1nm




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